Biometrie: Experte warnt vor allzu optimistischen Wachstumshoffnungen

Darmstadt/Rostock/Graz (ots) - Bildmaterial ist abrufbar unter http://www.presseportal.de/galerie.htx?type=obs

Rückfragen & Kontakt:

Pressekontakt:
konrad.baier@igd.fraunhofer.de
Tel.:+49-6151-155-146oder-441

OTS-ORIGINALTEXT PRESSEAUSSENDUNG UNTER AUSSCHLIESSLICHER INHALTLICHER VERANTWORTUNG DES AUSSENDERS | EUN0004