Motorola übernimmt Alpha Test für Analysesystem für Semiconductor-Tests, dem ersten seiner Art

München (ots-PRNewswire) - Applied Precision Inc. tritt mit Hilfe von Motorola (New Yorker Börse: MOT) in die Alpha-Testphase von waferWoRx(TM), ihrem Analysesystem für das Testen von Semiconductors, ein.

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Das waferWoRx-System von Applied Precision verbessert den Wafer-Testvorgang durch unmittelbare Datensammlung und -analyse. Motorola wird über das System als Messwerkzeug für die Analyse neuer Testnadelkonstruktionen und -technologien in ihrem Werk in Chandler, Arizona, Feedback geben. Motorola wird darüber hinaus mit Applied Precision zusammen arbeiten, um zukünftigen Software-Modulen Priorität zu geben und die Möglichkeiten von waferWoRx zu erweitern.

"Der Input von Motorola ist für die rasche Entwicklung dieses Systems von ausschlaggebender Bedeutung", sagte Bob Heiligenberg, Seminconductor Product Line Manager von Applied Precision. "Das waferWoRx System ist das einzige Testnadel-Analysesystem, das Daten von der Testnadel, Testkarte und dem Testkarten-Analyzer sammeln, analysieren und korrelieren und den Testraum-Ingenieuren Korrekturmaßnahmen vorschreiben kann."

"WaferWoRx ist eine innovative Lösung für verschiedene Themen im Rahmen des Testvorgangs, die unseren Durchsatz im Werk beeinträchtigen könnten, und wir erwarten, dass waferWoRx uns ein besseres Verständnis unserer Prozesse vermitteln wird", sagte Bill Williams, Manager, FMTC Wirebond Probe Technology Development Department vom Motorola Semiconductor Products Sector.

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Kummer übernimmt Vertrieb von Applied Precision Semiconductor-Produkten in Europa

Applied Precision Inc. macht seine Produkte den europäischen Kunden durch ein Vertriebsabkommen mit der John P. Kummer Group verfügbar. Die John P. Kummer Group ist auf den Wiederverkauf von Produkten für Semiconductor-Tests, Messtechnik und Inspektion an die europäische Mikroelektronik-Industrie spezialisiert und unterhält Geschäftsstellen in der Schweiz, Deutschland, Frankreich und Großbritannien. Elcomind SRL wird weiterhin als Vertretung für die Produkte von Applied Precision in Italien tätig sein.

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Oxidations-Entfernungssystem von Applied Precision reinigt Testkarten mit bahnbrechender Technologie

Applied Precision stellt microBurst* vor - das System zur Reduzierung des Kontaktwiderstandes und ein neues Produkt, das die Microcluster Beam Technologie nutzt, um die Oxidationsschicht von der Testkarten-Nadel zu entfernen. Das microBurst-System ist der erste und einzige kontaktlose, zerstörungsfreie und nicht-chemische Prozess, der für die Reduzierung des Kontaktwiderstandes entwickelt wurde.

"Oxidation ist der Hauptfaktor für Kontaktwiderstände in nicht hinnehmbarer Höhe während des Wafer-Testvorganges. Das microBurst-Sysem ist ein leistungsfähiges, bewährtes Instrument für das Entfernen von Oxidation", sagte Bob Heiligenberg, Semiconductor Product Line Manager von Applied Precision. "Das System ist so konstruiert und ausgelegt, dass es die Notwendigkeit erneuter Tests reduziert und für einen kostengünstigen Betrieb sorgt, der sich in Kosten- und Zeitersparnis für unsere Kunden umsetzt."

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